Test elektronischer Baugruppen

In-Circuit-Test (ICT)

Mittels des In-Circuit-Tests besteht die Möglichkeit, die korrekte Funktion der Schaltkreise zu ermitteln – noch bevor die Funktion der Baugruppe zum Tragen kommt.

Unsere Seica Pilot FX und Spea 3030 Testsysteme sind nicht nur in der Lage, die Parameter der Bauelemente vollautomatisch zu überprüfen, sie nehmen gleichzeitig auch eine Prüfung der Baugruppe auf Kurzschlüsse und Lötfehler vor. Doch damit nicht genug: Programmierung und Funktionsprüfung sind ebenfalls in den ICT Prozess integrierbar. Übrigens: Die Spea 3030 stellt zur Zeit das nonplusultra im Bereich des In-Cicuit-Testings dar.

Mit den „Flying bed of nails“-Verfahren stehen unseren Kunden hochwertige Testsysteme zur Verfügung, die bei vergleichsweise niedrigen, produktspezifischen Adapterkosten sehr präzise Messergebnisse liefern.

Funktionstest

Während In-Circuit-Tests mehr für das Messen einzelner Bauteilwerte verwendet werden, richtet sich der Fokus beim Funktionstest klar auf die funktionelle Überprüfung der Schaltung. Hier arbeiten wir u. a. mit dem Mini Tec ATS10 System.

Prüftechnik

Nicht nur die elektrische Schaltungs- und Bauteilprüfung stehen heutzutage im Vordergrund der Qualitätssicherung, sondern auch vermehrt die Material- und Oberflächenprüfung. Dazu bieten wir Ihnen Testmöglichkeiten, wie z. Bsp. Röntgen mittels des Viscom X8008 X-Ray Systems, eine Vermessung mittels der Keyence IM-6500 Systems oder eine optische Überprüfung mittels des Keyence VHX2000 Digitalmikroskops an.

Egal ob Sie die Funktion der gesamten Schaltung, nur eines definierten Bauteils oder die Oberfläche prüfen wollen – wir haben die geeignete Lösung für Sie: In enger Zusammenarbeit entwickeln wir mit Ihnen und unseren ausgewählten Systemlieferanten für jede Baugruppe ein individuelles Testverfahren.

Durch die vollautomatischen Funktionstestanlagen sind wir in der Lage, Ihnen selbst bei Großserienaufträgen kostengünstige Funktionstests anzubieten.

Arbeitsbeispiel MEC Elektrischer Test: