Test elektronischer Baugruppen

In-Circuit-Test (ICT)

Mittels In-Circuit-Test besteht die Möglichkeit, die korrekte Funktion der Schaltkreise zu ermitteln – noch bevor die Funktion der Baugruppe zum Tragen kommt.

Unser Seica Pilot FX Testsystem ist nicht nur in der Lage, die Parameter der Bauelemente vollautomatisch zu überprüfen. Es nimmt gleichzeitig auch eine Prüfung der Baugruppe auf Kurzschlüsse und Lötfehler vor. Doch damit nicht genug: Programmierung und Funktionsprüfung sind ebenfalls in den ICT integrierbar.

Und mit dem „Flying bed of nails“-Verfahren steht unseren Kunden ein hochwertiges Testsystem zur Verfügung, das bei vergleichsweise niedrigen, produktspezifischen Adapterkosten sehr präzise Messergebnisse liefert.


Funktionstest

Während In-Circuit-Tests mehr für das Messen einzelner Bauteilwerte verwendet werden, richtet sich der Fokus beim Funktionstest klar auf die funktionelle Überprüfung der Schaltung.

Egal ob Sie die Funktion der gesamten Schaltung oder nur eines definierten Teils prüfen wollen, wir haben die geeignete Lösung für Sie: In enger Zusammenarbeit entwickeln wir mit Ihnen und unseren ausgewählten Systemlieferanten für jede Baugruppe ein individuelles Testverfahren.

Darüber hinaus sind wir mit unseren vollautomatischen Funktionstestanlagen in der Lage, Ihnen selbst bei Großserienaufträgen kostengünstige Funktionstests anzubieten.


Arbeitsbeispiel MEC Elektrischer Test:

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MEC
Elektronische Komponenten GmbH
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